Corso di microscopia elettronica in scansione

Il corso, organizzato da AIM, ha lo scopo di fornire basi teoriche e pratiche per un corretto utilizzo del SEM e ad introdurre alle molteplici tecniche di analisi ad esso integrate.

Le potenzialità di un SEM possono non essere sfruttate pienamente qualora non si abbia una adeguata conoscenza della struttura di questo strumento e dei limiti delle varie tecniche di osservazione.

Anche la modalità di preparazione dei campioni deve essere appropriata per non limitare l’indagine ed ottenere informazioni attendibili.

Proprio a quest’ultimo aspetto sarà dedicato l’intervento di uno dei nostri esperti.

Il corso si terrà il 21 e il 22 giugno.