Microscopia elettronica applicata alla failure analysis
Il successo del microscopio elettronico a scansione è dovuto alla vastità di applicazioni possibili e alle numerose informazioni che può offrire, sia di tipo morfologico che chimico.
La tecnica SEM è ormai essenziale nell’ambito della Failure Analysis e viene utilizzata come base di partenza per la pianificazione di ulteriori indagini di tipo chimico-fisico.
Il 23 settembre 2022 a Padova si terrà una giornata di studio nell'ambito del 39° Convegno Nazionale AIM dedicata alle applicazioni della tecnica SEM in ambito metallurgico e in particolare in failure analysis, durante la quale uno dei nostri esperti esporrà una relazione sul tema.
Per maggiori dettagli ed iscrizioni: https://www.metallurgia-italiana.net/manifestazione.php?id=729&idc=1
